Please use this identifier to cite or link to this item: http://thuvienso.dut.udn.vn/handle/DUT/7394
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorNguyễn Thanh Bìnhen_US
dc.date.accessioned2025-08-15T12:19:54Z-
dc.date.available2025-08-15T12:19:54Z-
dc.date.issued2005-
dc.identifier.urihttp://thuvienso.dut.udn.vn/handle/DUT/7394-
dc.description.abstractTiểu ban 2en_US
dc.language.isovien_US
dc.publisherTrường Đại học Bách khoaen_US
dc.subjectKiểm thử đột biếnen_US
dc.subjectĐột biếnen_US
dc.subjectLập trìnhen_US
dc.titleKiểm thử đột biến áp dụng cho các chương trình VHDLen_US
dc.titleMutation testing applied to VHDL descriptionsen_US
dc.typeBáo cáo khoa họcen_US
item.fulltextKhông kèm toàn văn-
item.openairetypeBáo cáo khoa học-
item.grantfulltextnone-
item.openairecristypehttp://purl.org/coar/resource_type/c_18cf-
item.cerifentitytypePublications-
item.languageiso639-1vi-
Appears in Collections:Tuyển tập báo cáo Hội nghị khoa học kỷ niệm 30 năm thành lập Trường Đại học Bách khoa (1975 - 2005)
Show simple item record

CORE Recommender

Page view(s) 50

22
checked on Jan 29, 2026

Google ScholarTM

Check


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.