Please use this identifier to cite or link to this item: http://thuvienso.dut.udn.vn/handle/DUT/7394
Title: Kiểm thử đột biến áp dụng cho các chương trình VHDL
Mutation testing applied to VHDL descriptions
Authors: Nguyễn Thanh Bình
Keywords: Kiểm thử đột biến;Đột biến;Lập trình
Issue Date: 2005
Publisher: Trường Đại học Bách khoa
Abstract: 
Tiểu ban 2
URI: http://thuvienso.dut.udn.vn/handle/DUT/7394
Appears in Collections:Tuyển tập báo cáo Hội nghị khoa học kỷ niệm 30 năm thành lập Trường Đại học Bách khoa (1975 - 2005)

Show full item record

CORE Recommender

Page view(s) 50

22
checked on Jan 29, 2026

Google ScholarTM

Check


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.